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2023年12月6日，日立高新宣布推出日立暗场晶圆缺陷检测系统DI4600，这是一种用于检测半导体生产线上图案化晶圆上颗粒和缺陷的新工具。..
今年，应用材料推出了 Enlight® 2 系统，它将吞吐量和灵敏度提升到新的水平，可以在不牺牲灵敏度的情况下将吞吐量提高 50%。..
回顾本次大会，在内容上打破此前以材料为主题的专场划分，聚焦半导体材料分析、可靠性测试和失效分析、缺陷检测和量测等检测技术。..
近两百位分析测试领域管理人员、专家学者、仪器企业代表以及萍乡市领导等齐聚一堂，交流实验室绿色技术创新研究，推动分析仪器产业高质量发展。..
本期#视角#栏目我们来聊聊近期热度很高的仪器租赁模式试点，看看这个大动作将会对科学仪器、检验检测乃至科研市场带来什么样的影响？..
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